Das IHP – Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik in Frankfurt (Oder) ist Teil des Forschungsprojekts „EMPHASE“, das sich in den nächsten drei Jahren mit der Verbesserung der Zuverlässigkeit beim automatisierten Fahren beschäftigt.
Die Forscher aus den Abteilungen System Design und Circuit Design gehören zu einem Team, das sich aus neun verschiedenen Partnern der Industrie- und Forschungslandschaft zusammensetzt.
Dazu gehören Silicon Radar GmbH, SYSGO AG, Cadence Design Systems GmbH, Technische Universität Braunschweig, Infineon Technologies AG, DENSO Automotive Deutschland GmbH, AUDI AG und AbsInt Angewandte Informatik GmbH.
„Wir arbeiten an Mechanismen, die einen ungestörten Ablauf beim automatisierten Fahren ermöglichen, selbst dann, wenn bei der Elektronik Fehler auftreten. Das wiederum ist entscheidend zur Prävention von Unfällen“, erklärt der IHP-Wissenschaftler Prof. Dr. Milos Krstic.
Während sich sein Team mit den fehlertoleranten Prozessoren befasst, kümmern sich die Kollegen von Circuit Design um die Radarsensorik.
„Ziel dabei ist es, ein Konzept von smarten rekonfigurativen Umfeldsensoriksystemen zu entwickeln, die besonders ausfallsicher sind und bei auftretenden Fehlern schnell reagieren können“, fügt Dr. Herman Jalli Ng, Forscher in der IHP-Abteilung Circuit Design hinzu.
Das Forschungsprojekt wird vom Bundesministerium für Bildung und Forschung mit 3,7 Millionen Euro gefördert. Das erste Treffen der Forschungsgruppe fand bereits Ende Januar statt, eine weitere Zusammenkunft ist im Mai dieses Jahres in München geplant.
Erste Ergebnisse sollen bis dahin schon zusammengetragen werden. „Langfristig bauen wir darauf, durch die intensive Zusammenarbeit von Partnern aus Wissenschaft und Industrie neues Wissen zu generieren, um Systeme zu entwickeln, die das automatisierte Fahren noch sicherer machen“, sagt Prof. Dr. Milos Krstic.
http://www.ihp-microelectronics.com/de/abteilungen/system-design/design-testmethodik.html
